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智能介電常數(shù)測定儀雙掃描技術 - 測試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動調(diào)諧搜索功能。 雙測試要素輸入 - 測試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。 雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧，數(shù)碼化電容調(diào)諧

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介電常數(shù)介質損耗測量儀符合標準：$nASTM D150-11實心電絕緣材料的交流損耗特性和電容率（介電常數(shù)）的標準試驗方法；$nGB/T1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻下電容率和介質損耗因數(shù)的推薦方法；$nGB/T1693-2007硫化橡膠介電常數(shù)和介質損耗角正切值的測定方法；$nGBT5594.4-2015電子元器件結構陶瓷材料性能測試方法；

電氣絕緣介電常數(shù)儀介質在外加電場時會產(chǎn)生感應電荷而削弱電場，原外加電場（真空中）與終介質中電場比值即為介電常數(shù)。電介質經(jīng)常是絕緣體。其例子包括瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料，和各種金屬氧化物。有些液體和氣體可以作為好的電介質材料。干空氣是良好的電介質

高頻 介電常數(shù)介質損耗儀 系統(tǒng)由S916測試裝置（夾具）、LJD-A/B/C型高頻Q表、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動測量控件（裝入LJD-A/B或LJD-C的軟件模塊）、及LKI-1型電感器組成。依據(jù)國標GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標ASTM D150以及電工委員會IEC60250的規(guī)定設計制作

LJD-C型介電常數(shù)及介質損耗測試儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前國內(nèi)高的160MHz。 雙掃描技術 - 測試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動調(diào)諧搜索功能

LJD系列介電常數(shù)介質損耗測定儀自動介電常數(shù)測試時，基本步驟同手動一樣，只是主機支持通過數(shù)據(jù)模塊記錄S916測試夾具的數(shù)據(jù)，并自動計算出介電常數(shù)。 2.使用數(shù)據(jù)轉換連接線,連接S916數(shù)據(jù)傳輸接口和介電常數(shù)測試主機背板上的四芯插座